ENGINEERING EVIDENCE

결과에는 반드시
조건이 함께 있어야 합니다.

아래 수치는 제공된 LTspice 로그에서 가져온 회로 모델 시험 결과입니다. 실제 전기장 센서의 측정 거리·정확도 또는 FAB 현장 성능을 의미하지 않습니다.

출처: 제공된 LTspice 시험 로그 요약. 시험 파일: EFS1M_FAST_EDGE.cir / EFS1M_NOISE_SWEEP.cir. 공개용 원본 파일과 회로 버전 식별자는 아직 첨부되지 않았습니다.

입력 정전용량별 출력 잡음

LTspice · 27 °C

누적 출력 잡음 · 0.1 Hz–1 kHz · µV RMS

20 pF
19.38
100 pF
20.12
500 pF
32.03
010203040 µV

비교 축은 0–40 µV로 동일합니다. 입력 정전용량이 큰 조건에서 이 대역의 누적 출력 잡음이 증가했습니다. 최종 시스템 잡음에는 ADC·전원·배선·실센서 조건 등이 추가됩니다.

외부 정전용량과도응답 변화량누적 잡음
20 pF−1.043010 mV19.38 µV RMS
100 pF−1.043011 mV20.12 µV RMS
500 pF−1.043013 mV32.03 µV RMS

과도응답: 기준값 대비 9–10 ms 평균. 잡음: 별도 잡음 해석의 0.1 Hz–1 kHz 적분. 서로 다른 해석 결과이므로 위 수치만으로 시스템 SNR을 보증하지 않습니다.

현장 리포트는 이렇게 준비합니다.

아직 현장 실증 데이터는 없습니다. 실제 결과 대신, 실증에서 합의할 보고서 항목을 공개합니다.

기록 항목용도
장치 ID · 시각 · 측정 조건데이터 출처와 시험 조건 추적
위치 또는 구간 식별자반복 구간 비교 — 위치 결합 검증 필요
원본값 · 보정 정보처리 과정과 기준 계측기 대조
누락 · 장치 상태분석에 사용할 수 없는 구간 구분

함께 검토해 보세요

시험 조건과 원자료를
함께 검토하겠습니다.

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